એક ઓપ્ટિકલ સાધનમાં વપરાતા પ્રકાશની તરંગલંબાઈ ${\lambda _1 = 4000 \ \text{\AA}}$ અને ${\lambda _2 = 5000 \ \text{\AA}}$ છે, તો તેમની સંબંધિત રિઝોલ્વિંગ પાવર (જે ${\lambda _1}$ અને ${\lambda _2}$ ને અનુરૂપ છે) નો ગુણોત્તર કેટલો થાય?

એક ઓપ્ટિકલ સાધનમાં વપરાતી પ્રકાશની તરંગલંબાઈ $\lambda_1 = 4000 \; \mathring{A}$ અને $\lambda_2 = 5000 \; \mathring{A}$ છે,તો તેમની સંબંધિત રિઝોલ્વિંગ પાવર ($\lambda_1$ અને $\lambda_2$ ને અનુરૂપ) નો ગુણોત્તર કેટલો થાય?

નીચે બે વિધાનો આપેલા છે: એકને વિધાન $A$ તરીકે અને બીજાને કારણ $R$ તરીકે લેબલ કરવામાં આવ્યું છે.
વિધાન $A$: ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપ ઓપ્ટિકલ માઇક્રોસ્કોપ કરતા વધુ સારી રિઝોલ્વિંગ પાવર પ્રાપ્ત કરી શકે છે.
કારણ $R$: ઇલેક્ટ્રોન ગનમાંથી ઉત્સર્જિત ઇલેક્ટ્રોનની ડી-બ્રોગ્લી તરંગલંબાઇ દ્રશ્ય પ્રકાશની તરંગલંબાઇ કરતા ઘણી ઓછી હોય છે.
ઉપરોક્ત વિધાનોના પ્રકાશમાં, નીચે આપેલા વિકલ્પોમાંથી સાચો જવાબ પસંદ કરો:

એસ્ટ્રોનોમિકલ ટેલિસ્કોપના ઓબ્જેક્ટિવ લેન્સનું એપર્ચર વધારવાથી,પ્રકાશની તરંગલંબાઇ,ઓબ્જેક્ટિવ લેન્સની કેન્દ્રલંબાઇ અને રિઝોલ્વિંગ પાવર પર અનુક્રમે શું અસર થાય છે?

જ્યારે $6000\ \mathring{A}$ તરંગલંબાઈના પ્રકાશનો ઉપયોગ કરવામાં આવે ત્યારે માઇક્રોસ્કોપમાં $0.1\,mm$ ના અંતરે રહેલા બે બિંદુઓને માંડ અલગ (resolve) કરી શકાય છે. જો $4800\ \mathring{A}$ તરંગલંબાઈના પ્રકાશનો ઉપયોગ કરવામાં આવે,તો આ વિભેદન સીમા (limit of resolution) .......$mm$ થશે.

જ્યારે $6000 \, \mathring{A}$ તરંગલંબાઈના પ્રકાશનો ઉપયોગ કરવામાં આવે ત્યારે માઇક્રોસ્કોપમાં $0.05 \, mm$ થી અલગ પડેલા બે બિંદુઓનું નિરીક્ષણ કરી શકાય છે. જો $3000 \, \mathring{A}$ તરંગલંબાઈના પ્રકાશનો ઉપયોગ કરવામાં આવે,તો વિભેદન સીમા (limit of resolution) ........... $mm$ થશે.